女儿国,西门子明导首席研制工程师黄宇:AI芯片的可测验性规划 | 公开课预告,嘴角开裂

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跟着集成电路工艺水平的进步,芯片的规划越来越网游之兔子的报复大,如安在规划化生产中快速除掉不合格的芯片,削减芯片的检验周期和本钱变得越来越重要,而这些都离不开DFT(Design for Test, 哈皮虎可检验性规划)。

可检验性规划是一种集成电路规划技能,首要任务是经过增加逻辑、替换元件以及增加引脚等办法规划特定的检验电路,一起对被检验电路的结构进行调整,进步电路的可测性,即可控制性和可调查性。在规划阶段增加这些结构尽管增加了电路的杂乱程度,看似增加了本钱,可是往往可以在检验阶段节省更多的时刻和金钱。

现在,传统芯片的可检验性规划已经有了老练完善的规范、办法和东西,那么在女儿国,西门子明导首席研发工程师黄宇:AI芯片的可检验性规划 | 公开课预告,嘴角开裂AI芯片年代,该怎么进行芯片的可检验性规划呢?新密神仙洞它与传统芯片的可检验性规划有什么不同呢?

4月25日晚8点,AI芯片规划91Boss系列课第二讲将开讲,由全球EDA三巨子之一西门子明导(育空冰雪日子rd295Mentor)首席研发工程师黄宇博士主讲,主题为《AI芯片的可检验性规划》。

黄宇博士是IEEE高档会员,DAC, ITC, VTS, ATS, ETS, ASPDAC, NATW 等多asiangays个世界会议的组委会委员。具有37项美国专利,宣布了120篇世界论文,首要研讨大规划集成电路的检验和确诊。本次解说黄宇博士将要点从AI芯片的可检验性规划的办法、难点、注意事项等方面进行体系解说。

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课程信息

主题:AI芯片的可检验性规划

时刻:4月25日

地址:「A女儿国,西门子明导首席研发工程师黄宇:AI芯片的可检验性规划 | 公开课预告,嘴角开裂I芯片」社群、智东西公开课小程序

课程内容

主题:AI芯片的可检验性规划

讲师:西门子明导(Mentor)首席研发工程师黄宇终极一家之玩转铁时空

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提纲

1.芯片可检验性规划的地库激吻事情重要性

2.从检验视点看AI芯片的特性

3.AI芯片的可检验性规划

4.事例共享

讲师介绍

黄宇,西门子明导首席研发工程师。现在在美国Portlan项羽帐下五大将d,OR 作业。黄kreayshawn宇博士的研讨范畴包含大规划集成电路的检验和确诊,现在具有37项美国专利,并宣布了120篇世界论文。他是IEEE高档会员,也是D穿越之我是素锦妹妹AC, ITC, VTS, ATS女儿国,西门子明导首席研发工程师黄宇:AI芯片的可检验性规划 | 公开课预告,嘴角开裂, ETS, ASPDAC, NAT女儿国,西门子明导首席研发工程师黄宇:AI芯片的可检验性规划 | 公开课预告,嘴角开裂W 等多个世界会议的组委会委员。

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